等级判定规格等级不良项目判定画面及治具A规亮点暗点微弱点亮线暗线微弱线面板异物点线规卡量测全黑判定点线规量测ND遮掩明显度mura(带、线)灰阶判定用ND遮掩明显度全黑判定偏光板刮伤用点线规量测D ≦0.5mm8%ND可见6%ND不可见8%ND可见6%ND不可见D≦0.5mmL≦1mmW≦0..5mmD≦0.5mm玻璃刮伤全黑判定用点线规量测全白判定背光板脏污异物折伤用点线规量测放大镜做辅助确认画面异常白屏/黑屏任意画面做判定L≦0.5mmW≦0.5mmD≦0.5mmL≦1mmW≦0.5mm不允许不允许D ≦1.0mm3%ND不可见3%ND不可见D≦1.5mmL≦3mmW≦1.5mmD≦1.5mL≦1.5mmW≦1.5mmD≦1.0mmL≦3mmW≦1.5mm不允许不允许D≦2.0mm2%ND不可见2%ND不可见D≦3mmL≦5mmW≦3mmD≦3mmL≦3mmW≦3mmD≦2.0mmL≦5mmW≦3mm不允许不允许全黑判定全白判定50%灰判定全黑判定全白判定50%灰阶判定全黑判定D≦0.5mmD≦1.0mmD≦2.0mmN≦2N≦3不卡点距N≦2不卡点距不允许不允许不允许A-规N≦4两点点距≦15mmN≦5不卡点距N≦4不卡点距不允许不允许不允许B规N≦7两点点距≦5mmN≦7不卡点距N≦7不卡点距不允许不允许N≦1斑点、污点/任意画面做判定偏色不允许单一画面宏观无明活动画面宏观无显差异明显差异Flicfer画面程度为判定标准不允许2%ND可见闪烁破片周边半月白斑灰阶判定任意画面做判定50%灰阶判定ND做辅助确认不允许不允许6%ND可见不允许不允许3%ND可见端子部碎角、端子部碎角端子部碎角、ChipChip不可伤及蚀、Chip不允不可伤及蚀刻线刻线路1/2，反许，反端子外观不良主观判定路，反端子不可伤端子不可伤及BM不可伤及框及BM区，不可大于3区，不可大于5胶，不可出处，不可出现锐角处，不可出现锐现锐角角备注：名词解释（N=数量 L=长度 W=宽度 D=直径）1、检验条件:环境温度：25±5℃, 湿度： 20~80%RH,正视90度,视角范围：上下15度,左右45度. 照明度: 100~300Lux (在Monitor 表面上测量)，目视距离：30-50CM
2、以上缺陷不可同时存在，规按行业标准A规屏2/3/5区分（单一Dot暗点忽略不计，但坏的点数和最大为5）；A-规4/5/8区分（3个亮点\\5个暗点\\但坏的点数和最大为8）；B规按行业7/7/12区分（5个亮点\\7个暗点\\但坏的点数和最大为10）
