精密角位移测量系统[发明专利]

来源：独旅网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：精密角位移测量系统专利类型：发明专利

发明人：孙世政,周清松,尹燕莉,廖超,向洋,龙雨恒申请号：CN201811176607.X申请日：20181010公开号：CN1055512A公开日：20181207

摘要：本发明公开了一种精密角位移测量系统，包括若干设置的电磁测头、信号处理电路、控制器、通信器及上位机；各所述电磁测头分别与信号处理电路相连，所述信号处理电路与控制器相连，所述控制器通过通信器与上位机相通信；至少两个所述电磁测头作为上层测头围绕分布于转子齿轮的外圆相对一侧，同时至少两个所述电磁测头作为下层测头也围绕分布于转子齿轮的外圆相对一侧，且所述下层测头错位设置于上层测头的下方。本发明能够减少传感器整周长周期和对极内短周期误差，同时降低装调要求，提高系统可靠性。

申请人：重庆交通大学

地址：402247 重庆市江津区双福新区福星大道1号

国籍：CN

代理机构：北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：赵小安

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